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產品型號:TEA-225PF
廠商性質:生產廠家
更新時間:2025-10-21
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線性快速溫變箱 電子元器件循環測試設備
產品概述
線性快速溫變箱是一種環境可靠性測試設備,專門用于模擬快速變化的溫度環境。它核心特點在于其線性的、可控的溫變速率,能夠精確復現產品在運輸、存儲及使用過程中所面臨的嚴酷溫度條件,是考核電子元器件、PCB板、模塊組件等產品耐溫性能和可靠性的關鍵設備。
設備亮點與優勢
真實模擬應力:與普通溫箱相比,它能施加更接近真實環境的溫度應力,更易激發潛在缺陷。
高測試效率:極快的升降溫速度大幅縮短測試周期,加速產品研發與質量驗證進程。
控制精度:采用線性控溫技術,避免過沖與波動,確保測試條件的準確性與重復性。
高可靠性設計:核心部件如壓縮機、控制器均選用國際品牌,保障設備長期穩定運行。
智能便捷:大尺寸觸摸屏,支持程序編輯、遠程監控與數據導出,操作簡單,維護方便。



線性快速溫變箱 電子元器件循環測試設備
工作原理
設備通過一套精密的制冷系統(通常為復疊式制冷)和加熱系統,對箱內空氣進行強制調節。在控制器(如PLC)的精確指令下,系統根據預設的“線性溫變率"(如每分鐘5°C至15°C)進行計算與控制,動態平衡制冷與加熱的功率輸出,從而實現溫度勻速、精準地上升或下降,再現預設的溫度變化曲線。
主要用途
主要用于發現電子元器件因熱脹冷縮引起的各種失效模式,包括:
材料開裂、焊點疲勞斷裂
接觸不良、間歇性導通
封裝密封性失效
性能參數漂移
應用領域
汽車電子:發動機控制器、車載傳感器、電池管理系統BMS。
航空航天:機載計算機、導航與通信模塊。
消費電子:智能手機、穿戴設備的核心主板與芯片。
半導體與IC:芯片、晶圓的封裝測試與可靠性驗證。



技術參數
溫度范圍:-70°C 至 +150°C(或 -40°C 至 +150°C)
線性溫變速率:5°C/min ~ 15°C/min(可按需定制更高規格)
溫度波動度:≤±0.5°C
溫度均勻度:≤±2.0°C
內箱容積:標準80L~1000L(可定制)
控制器:彩色觸摸屏,多段程序編輯,USB數據存儲
制冷方式:機械式復疊制冷/液氮輔助(超高速)
外殼材質:優質冷軋鋼板,表面噴塑處理
滿足標準
本設備嚴格遵循以下國家及國際標準設計制造:
GB/T 2423.22(電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗N:溫度變化)
IEC 60068-2-14(基本環境試驗規程 第2-14部分:試驗N:溫度變化)
GJB 150.5A(實驗室環境試驗方法 第5部分:溫度沖擊試驗)
MIL-STD-202F(電子及電氣元件試驗方法)

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