線性快速溫變?cè)囼?yàn)箱芯片可靠性測(cè)試

芯片可靠性測(cè)試

芯片在不同的工作環(huán)境中會(huì)面臨各種溫度變化，快速溫變?cè)囼?yàn)箱能夠模擬這些復(fù)雜的溫度條件，檢測(cè)芯片在快速溫度變化下的性能和可靠性，從而確定芯片是否能夠在實(shí)際應(yīng)用中穩(wěn)定運(yùn)行.

例如，在一些極-端環(huán)境下，如航空航天、軍事等領(lǐng)域，芯片需要在極低或極-高的溫度下正常工作，通過快速溫變?cè)囼?yàn)箱的測(cè)試，可以評(píng)估芯片在這些極-端溫度條件下的穩(wěn)定性和可靠性，為芯片的應(yīng)用提供保障.

溫度性能

溫度范圍：-60℃～150℃，寬廣的溫度范圍能夠模擬芯片在不同環(huán)境下的使用條件，滿足芯片在多種應(yīng)用場景中的可靠性測(cè)試需求.

升溫速率：線性升溫速率有 5℃/min、10℃/min、15℃/min、20℃/min、25℃/min 等可選，可根據(jù)不同芯片的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)和要求，選擇合適的升溫速率，以準(zhǔn)確評(píng)估芯片在快速升溫過程中的性能和可靠性 。

降溫速率：線性降溫速率同樣有 5℃/min、10℃/min、15℃/min、20℃/min、25℃/min 等多種選擇，可模擬芯片在實(shí)際使用中可能遇到的快速降溫環(huán)境，檢測(cè)芯片在低溫環(huán)境下的穩(wěn)定性和可靠性 。

線性快速溫變?cè)囼?yàn)箱芯片可靠性測(cè)試

濕度性能

濕度范圍：20%～98% RH，芯片在不同的濕度環(huán)境中，其性能可能會(huì)受到影響，該試驗(yàn)箱的濕度范圍可滿足對(duì)芯片在不同濕度條件下的可靠性測(cè)試，如高濕度環(huán)境下芯片的防潮性能、低濕度環(huán)境下芯片的靜電釋放等問題的檢測(cè).

控制精度

溫度控制精度：達(dá)到 0.1℃，高精度的溫度控制能夠確保試驗(yàn)箱內(nèi)溫度的穩(wěn)定性和準(zhǔn)確性，為芯片可靠性測(cè)試提供精確的溫度環(huán)境，減少因溫度波動(dòng)而導(dǎo)致的測(cè)試誤差.

濕度控制精度：控制精度為 1% RH，精確的濕度控制可保證試驗(yàn)箱內(nèi)濕度的穩(wěn)定，有助于更準(zhǔn)確地評(píng)估芯片在不同濕度條件下的性能變化.