冷熱沖擊試驗箱 電子元件環(huán)境測試設(shè)備

產(chǎn)品概述

本產(chǎn)品是一款專為電子、電器、元器件及材料等領(lǐng)域設(shè)計的高性能三箱式冷熱沖擊試驗箱。它通過模擬極速的高低溫轉(zhuǎn)換環(huán)境，對測試品在瞬間經(jīng)受溫度劇烈變化時的適應(yīng)性及可靠性進行嚴(yán)格考核，是提升產(chǎn)品質(zhì)量、進行失效分析及可靠性篩選關(guān)鍵設(shè)備。

基本結(jié)構(gòu)

設(shè)備采用三箱隔離式結(jié)構(gòu)（高溫區(qū)、低溫區(qū)、測試區(qū)），測試區(qū)由提籃（吊籃）機構(gòu)帶動，在預(yù)設(shè)時間內(nèi)在高低溫區(qū)之間進行精準(zhǔn)轉(zhuǎn)換。箱體采用優(yōu)質(zhì)不銹鋼板，內(nèi)部結(jié)構(gòu)堅固耐用。保溫層為高性能聚氨酯發(fā)泡，確保優(yōu)異的隔熱性能。配備高強度耐高溫的引線孔，便于產(chǎn)品帶電測試。

冷熱沖擊試驗箱 電子元件環(huán)境測試設(shè)備

工作原理

設(shè)備基于靜態(tài)存儲、動態(tài)沖擊的原理工作。高溫箱和低溫箱在測試前預(yù)先達(dá)到并穩(wěn)定在設(shè)定的溫度。當(dāng)測試開始時，通過提籃傳動機構(gòu)，將放置在測試籃中的樣品在短時間內(nèi)（通常數(shù)秒內(nèi)）在高、低溫儲存區(qū)之間進行切換，使樣品瞬間暴露在截然不同的溫度環(huán)境中，從而產(chǎn)生劇烈的溫度沖擊效應(yīng)。

主要功能及特點

• 極速轉(zhuǎn)換：提籃轉(zhuǎn)換時間短，通常小于10秒，確保溫度沖擊的劇烈性。

• 精準(zhǔn)溫控：采用進口PID智能溫控儀，控溫精確，波動度小，保證測試條件的重現(xiàn)性。

• 獨立系統(tǒng)：高低溫區(qū)采用獨立的制冷和加熱系統(tǒng)，避免相互干擾，溫度恢復(fù)快。

• 安全保護：具備多重安全保護功能（超溫保護、風(fēng)機過熱保護、漏電保護等），確保設(shè)備與操作人員安全。

• 人性化操作：大尺寸觸摸屏人機界面，程序編輯簡單直觀，可存儲多組程序，方便調(diào)用。

應(yīng)用場景

廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體IC、PCB電路板、電子連接器、汽車電子、航空航天、、新材料研究等領(lǐng)域產(chǎn)品的環(huán)境應(yīng)力篩選（ESS試驗）、質(zhì)量驗證、失效分析及研發(fā)測試。

技術(shù)參數(shù)

• 溫度范圍：高溫區(qū)：+60℃ ~ +200℃；低溫區(qū)：-10℃ ~ -65℃

• 沖擊溫度：-55℃ ~ +150℃（常用范圍）

• 轉(zhuǎn)換時間：＜10秒（從低溫到高溫或反之）

• 溫度恢復(fù)時間：＜5分鐘（恢復(fù)至設(shè)定溫度）

• 內(nèi)箱尺寸：可根據(jù)需求定制（如 40*35*35cm）

設(shè)備亮點與優(yōu)勢

1. 高可靠性：核心元器件（如壓縮機、控制器、傳感器）均采用國際品牌，保證設(shè)備長期穩(wěn)定運行，故障率極低。

2. 節(jié)能高效：獨特的三箱式設(shè)計及優(yōu)化后的制冷系統(tǒng)，相比兩箱式結(jié)構(gòu)，在預(yù)冷和預(yù)熱過程中能耗更低，測試效率更高。

3. 測試無損：樣品在測試區(qū)靜止，提籃移動進行溫度切換，避免了傳統(tǒng)兩箱式因樣品移動可能產(chǎn)生的振動應(yīng)力，測試結(jié)果更精確。

4. 強大的數(shù)據(jù)記錄：配備USB接口和RS-485通訊接口，可全程記錄溫度-時間曲線和報警信息，方便進行數(shù)據(jù)追溯與分析，為產(chǎn)品質(zhì)量改進提供有力依據(jù)。