電子芯片可靠性高低溫交變濕熱試驗箱專為滿足芯片在復雜環境下的可靠性測試需求而設計，通過精準模擬溫濕度環境，嚴格檢測芯片性能穩定性，助力提升芯片質量與可靠性。

產品型號：THC-015PF
廠商性質：生產廠家
更新時間：2025-06-27
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生產廠家廣東皓天檢測儀器有限公司擁有專業的生產研發技術，一站式周到服務。作為一家專注于試驗設備產品的大型儀器制造商，皓天設備致力于為消費者提供技術、品質的優秀產品。

電子芯片可靠性高低溫交變濕熱試驗箱

工作原理

用戶設定溫濕度參數及測試程序后，控制系統啟動。溫度控制系統、制冷系統和加濕系統協同工作，傳感器持續采集箱內溫濕度數據并反饋至控制系統。控制系統通過閉環控制，根據偏差實時調整各系統運行狀態，實現溫濕度的精確交變模擬，同時記錄芯片在不同環境下的性能數據，為可靠性分析提供依據。

電子芯片可靠性高低溫交變濕熱試驗箱

電子芯片可靠性高低溫交變濕熱試驗箱

制冷系統

采用復疊式制冷技術，配置環保型制冷劑和雙級壓縮機。通過電子膨脹閥精確控制制冷劑流量，配合高效冷凝器和蒸發器，實現快速降溫。制冷系統還具備智能節能模式，根據箱內溫度自動調整壓縮機轉速，在保障制冷效果的同時降低能耗，確保芯片在低溫測試中穩定運行。

加濕系統

采用干蒸汽加濕與超聲波霧化的復合加濕方式。干蒸汽可實現快速加濕，滿足高濕度測試需求；超聲波霧化則用于濕度的精細調節。高精度濕度傳感器實時監測箱內濕度，控制系統根據反饋信號，以 0.1% RH 的精度調節加濕量，確保濕度控制精準無誤。

電子芯片可靠性高低溫交變濕熱試驗箱

技術參數

溫度范圍為 -65℃~150℃，濕度范圍 10% - 98% RH，能模擬芯片在極寒、高溫及高濕環境下的工作狀態。溫度波動度≤±0.2℃，溫度均勻度 ±1℃，濕度偏差 ±1.5% RH，確保箱內環境高度一致。升溫速率≥3℃/min，降溫速率≥2.5℃/min，可快速完成溫濕度交變，提高測試效率。支持多達 50 段可編程溫濕度曲線，滿足芯片復雜測試場景需求。

電子芯片可靠性高低溫交變濕熱試驗箱