聚焦半導體檢測需求，廣皓天企業可程式恒溫恒濕試驗箱獲晶圓廠批量訂單

更新時間：2025-07-04

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近期，廣皓天企業憑借自主研發的可程式恒溫恒濕試驗箱，成功贏得多家晶圓廠批量訂單，為半導體檢測領域注入新動能。在半導體行業對芯片性能要求不斷攀升的背景下，精準模擬復雜環境以完成芯片可靠性檢測，成為晶圓廠提升產品競爭力的關鍵，而廣皓天這款設備的可程式特性，恰好直擊行業痛點。

聚焦半導體檢測需求，廣皓天企業可程式恒溫恒濕試驗箱獲晶圓廠批量訂單

廣皓天可程式恒溫恒濕試驗箱，專為半導體檢測場景深度優化。其溫度控制范圍可達 - 70℃至 150℃，波動度精準控制在 ±0.5℃以內，濕度調節范圍為 20% - 98% RH，波動度僅 ±2.5% RH ，能模擬芯片實際使用中的溫濕度環境。而 “可程式" 特性更是該設備的核心優勢，支持用戶通過高精度觸摸屏，自由編輯多達 100 組、每組 50 段的溫濕度變化程序，可模擬芯片從生產、運輸到使用全生命周期內可能面臨的復雜溫濕度變化，實現階梯式、循環式等多樣化測試場景，無需人工頻繁干預，大幅提升檢測效率與準確性。

設備搭載智能控制系統，采用PID 算法，結合高精度溫濕度傳感器，對溫濕度變化響應靈敏。空氣循環系統配備耐溫低噪音空調型電機與多葉式離心風輪，確保箱體內各區域溫濕度均勻度≤2.0℃（溫度）與≤3.0% RH（濕度），避免因局部環境差異導致檢測誤差。同時，升溫速率達每分鐘 2.0℃ - 3.0℃，降溫速率為每分鐘 0.7℃ - 1.2℃，有效縮短檢測周期。

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在晶圓廠實際應用中，該設備展現出強大價值。通過預先設定程序，模擬芯片在高溫高濕的熱帶地區、低溫干燥的極地環境等不同場景下的溫濕度變化曲線，能精準檢測芯片是否存在電路老化、焊點失效、電氣性能衰減等潛在問題。某晶圓廠技術負責人表示，使用廣皓天可程式恒溫恒濕試驗箱后，芯片可靠性檢測效率提升 40%，產品不良率降低 15%，極大增強了產品市場競爭力。

廣皓天企業負責人透露，此次批量訂單的達成，是企業多年來深耕半導體檢測設備研發的成果體現。未來，廣皓天將持續聚焦行業需求，優化可程式試驗箱功能，研發更多智能化、高精度檢測設備，為半導體產業高質量發展提供堅實技術支撐。

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