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Cassification
更新時間:2025-06-25
瀏覽次數:74在電子科技飛速發展的當下,電子產品應用場景日益復雜,從高溫密閉的服務器機房到極寒的戶外電子設備,對芯片、電路板等核心部件的可靠性提出了嚴苛要求。近日,某電子科技企業完成新型冷熱沖擊試驗箱的交付使用,為產品可靠性測試帶來重大升級,進一步夯實了企業在行業內的技術競爭力。

在芯片可靠性測試方面,該試驗箱展現出強大的功能。企業研發團隊將新型處理器芯片置于試驗箱內,進行連續 72 小時的冷熱循環測試。在測試過程中,芯片經歷從 - 40℃的低溫環境到 85℃高溫環境的反復切換,同時保持滿負荷運行狀態。通過監測芯片的運算速度、功耗、信號傳輸穩定性等參數,發現芯片在高溫環境下存在晶體管漏電率上升的問題。基于試驗箱反饋的數據,研發團隊對芯片的散熱結構和電路設計進行優化,改進后的芯片在相同測試條件下,性能穩定性提升了 25%,有效延長了使用壽命。


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