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Cassification
更新時間:2025-09-10
瀏覽次數:163生產質量控制環節,快速溫變試驗箱是 “不良品篩選" 的關鍵工具。半導體晶圓制造過程中,微小的工藝偏差可能導致芯片在溫變環境下出現失效風險。通過對量產芯片進行批量快速溫變測試,可高效篩選出存在封裝缺陷、焊點虛接等問題的產品。例如,試驗箱在 10 分鐘內完成 - 55℃至 85℃的溫變循環,能加速暴露芯片內部的熱應力缺陷,將早期失效產品剔除率提升 30% 以上,避免不良品流入下游應用場景。



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